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使用数字源表测量二极管I-V特性,连接方法分析
发布日期:2024-09-30 07:03     点击次数:190

  一、概念:

  二极管是两端口电子器件,支持电流沿着一个方向流动(正向压),并阻碍电流从反方向流动(反向偏压)。无论在研究实验室还是生产线,都要对封装器件或在晶圆上进行二极管I-V测试。

  二、数字源表测量优势:

  二极管I-V特性分析通常需要高灵敏电流表、电压表、电压源和电流源。对所有分离仪器进行编程、同步和连接,既麻烦又耗时,而且需要大量机架或测试台空间。

  S型数字源表简化了测试,缩小机架空间,成为二极管特性分析的理想选择,因为它能够提供电流和电压的源和测量。

  三、二极管I-V测试

  二极管参数测试要求能在较宽范围提供电流和电压的源和测量。

3-1.jpg

  图2给出典型二极管的I-V曲线,包括正向区、反向区和击穿区,以及常见的测试点、正向电压(VF)、漏电流(IR)和击穿电压(VR)。正向电压(VF)测试涉及在二极管的正常工作范围内提供指定的正向偏置电流,然后测量作为结果的电压降。

  使用数字源表测量二极管I-V特性,连接方法分析

  漏电流(IR)测试确定二极管在反向电压条件下泄漏的电流电平。其测试通过提供指定的反向电压源, 亿配芯城 然后测量作为结果的漏电流。在反向击穿电压(VR)测试中,需要提供指定的反向电流偏置源,然后测量作为结果的二极管电压降。

  四、二极管与数字源表的连接

  连接如图所示

3-2.jpg

  利用4线连接,可以消除引线电阻的影响。

  当引线与二极管连接时,注意Force HI和Sense HI引线与二极管阳极端相连,Force LO和Sense LO引线与二极管阴极端相连。尽可能使连接靠近二极管,以消除引线电阻对测量准确度的影响。

  当测量低电平电流(<1μA)时,建议使用后面板的三轴同轴连接器和三轴同轴电缆,不再使用前面板的香蕉插孔。

  三轴同轴电缆具有屏蔽功能,将减少电磁干扰效应,电磁干扰效应可能会干扰读数。图下图为二极管与数字源表后面板三轴同轴连接器连接示意图。

3-3.jpg

  除了使用三轴同轴电缆,还应当把二极管放置在避光的金属屏蔽箱内。



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